主题：【原创】Qantas的A380迫降影响深远 -- 晨枫

11月1日至7日，太阳表面连续3次发生X射线M级别的爆发事件--好几年没有看到M级别的爆发了---（通常是A,B级别--也是本底水平，C级别NASA就要发警报了，M级别是再高一级，M级后面是X级，那个级别出现的话，鸽子可能也找不到回家的路了）。高速X射线流可能会在电子元件内部造成短路电流。

在这些M级事件发生之前，太阳射电活动已经开始活跃。

一般来讲，太阳X射线活动在爆发后8分钟后达到地球，而其它太阳电磁活动可以在爆发后几个星期之内影响地球，所以今年这个11月份不太平。

我们看到的该是电子系统出故障吧？--比如A380降落后有个发动机关闭不了，这和机械部分没关系吧？---又如发动机漏油，是不是燃料泵压力太高---也许是控制系统的误指令？

现代交通工具的电子控制系统越来越复杂，芯片中的线路之间的间距越来越短，受太阳射线活动和伴随而来的宇宙线中子轰击造成短路或失灵的几率越来越大---怪不得卫星上采用大量电子管元件，嫦娥2号上的计算机芯片还是386--江核心呢。

丰田的油门故障也许也同天外来客有关呢。

电子系统的应用环境不同，所遇到的辐射因素也不同，产生的效应和影响也各不相同，因而系统设计者必须采取不同措施进行加固。

　　辐射因素主要包括辐射总剂量、瞬时辐射剂量率、积分中子通量、单粒子扰动效应、电磁脉冲效应等。这些效应会使微电子元器件及集成电路的性能衰减，出现逻辑错误或永久性损坏，严重影响电子系统的可靠性，甚至完全不能工作。因而微电子元器件及集成电路的抗辐射加固技术的研究是军用和空间电子系统能在这些环境下可靠工作的保证。

　在自然环境中,宇宙射线、太阳增强粒子、具有能量的质子和中子都产生单粒子效应（SEE），高能单粒子穿过MOS器件时，就在其轨道上产生高密度的电子－空穴对，它们导致电路产生局部带电区。单粒子效应一般可分为单粒子闭锁（SEL）和单粒子扰动（SEU）。采用电路和版图设计技术，能提高CMOS工艺的SEL和SEE免疫能力，这些技术增加了单元面积，减小了速度，增加电源消耗。

我们正在进入以178年为周期的太阳黑子最小期延长和人类全面微电子化的重叠的时代，没有过往的经验可循--尽管全球暖化和反全球暖化的较劲使得我们对气候的认识和观察焦点逐步集中到太阳活动上来，太阳活动的新形势对微电子元器件，对医学，对农业生产的影响还没有完全被关注到。

这个月全球汽车交通事故变化不知如何？

建议民航机上的微电子设备抗辐射标准与卫星宇航同级--当然民航机制造成本可能会上升了。一旦采用军用宇航标准，出口控制怎么办？